激光测量类产品
· 产品应用
· ATLAS系列激光位移传感器
· POLARIS系列激光位移传感器
· ANTARIS系列激光位移传感器
激光划线灯和激光定位投影仪
 

LAP激光应用(亚太区)有限公司上海代表处

产品应用
 
  概述
  位移测量
  厚度和外形测量
多轨道厚度测量1
  多轨道厚度测量2

用数字传感器POLARIS进行多轨道厚度测量

与多轨道测量不同,整个横截面的记录无需轨道之间的插补。LAP软件的标准版本提供可视化和SPC工具。可以申请特殊的改进型,例如包含材料参数或一定的输出格式。模块化测量框架可适应于大多数生产环境。对于特殊的室内条件(热量、灰尘、湿度…),我们提供定制的框架,包含冷却/加热气流和清洁功能。

应用:磨沙机之前与之后的MDF和刨花板的厚度测量

方案: 在磨沙机之前把厚度记录在一条轨道中,连接有限位开关。要检查经过磨沙机之后是否不规则时,测量由三轨道POLARIS 70进行。所有数据用于SPC。

由于有灰尘,推荐使用空气净化隔离罩。

 

应用: 压延机之后橡胶条的厚度测量

方案: 因为需要高于±20 μm的精确度,所以用POLARIS 10进行三轨道厚度测量。

用空气净化装置,保护测量框架内的传感器不受灰尘和温度的影响。

 

应用: 金属条的厚度测量

方案: 用同一C框架内的两个POLARIS 30传感器进行单轨道厚度测量。

新的金属条无需穿过测量装置,因此框架的一侧是开放的。

 

  LAP
LAP激光应用(亚太区)有限公司上海代表处
地址 中国 上海市广东路689号, 海通证券大厦31楼   邮编 200001
电话 +86 21 5047 8881 传真 +86 21 5047 8887
公司网站:http://www.LAP-LASER.com  E-mail:w.qu@lap-laser.com