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| Chroma公司于2005 PXI论坛隆重推出PXI LED/LD测试系统 |
| 业界第一台整合ESD之高速LED/LD测试系统 |
| 2005-7-14 10:48:00 中国工控网 供稿 |
Chroma（致茂电子股份有限公司）作为PXI联盟成员之一，已经是连续两年参加由NI主办的PXI论坛，其PXI系统事业部总经理庄嘉明先生先生认为：“NI主办的该种形式的论坛是非常有意义的，可以给我们这些致力于PXI领域技术研究的企业提供一个开放、沟通、协作、互利的平台，可以让我们在自己产品应用所缺的领域得到充分渗透。希望以后该论坛可以继续举办，我们也会一如即往的参与。”
此次论坛上致茂电子带来了与PXIT公司合作开发PXI高速LED/LD测试系统，此系统专针对LED/LD晶片作特性的分析，以开放的PXI架构为基础，提供最佳的可扩充性及快速整合能力。其测试项目包含电流电压的输出量测、光功率量测及频谱分析功能，并整合ESD测试于PXI构架中，可提供标准安规之测试条件（Machine Mode及Human Body Mode）。PXI高速LED/LD测试系统，除了精密的PXI测试仪器外，亦提供了LED/LD晶片测试治具，让使用者可更快速及轻松的测试，本系统可提高目前业界测试系统两倍以上的速度，更为业界唯一整合ESD之高速LED/LD测试系统。
速度
·高速量测电流电压特性
·快速频谱分析波长/色彩量测
·完整的测试时间约80 ms
精确度
·16-bit解析度
·激发量测可达5000次/秒
·4线式量测方式
操作简便
·全系列LED测试系统解决方案
·开放式操作介面
整合ESD测试（选购）
·Machine Mode:STM5.2-1999
·Human Body Mode:STM5.1-2001
·可独立操作或整合于系统中
可扩充性
·职员多样化的治具
·可测试Single Die/Multiple Die
·支援LIV测试 |
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