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| 2005PXI论坛NI展示其在各行业的应用案例 |
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2005-7-20 NI-美国国家仪器有限公司 供稿
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PXI正在迅速成为测试及测量的标准的事实表现在市场份额的快速增长上，应用市场领域扩展、不断创新以及数目众多的PXI公司上。此次论坛上，NI展示了其PXI产品在各行业的应用案例，让用户亲眼目睹了NI在PXI领域的成果及贡献。
·通用手机翻盖耐久测试系统
使用NI的产品：
PXI-1002机箱、PXI-8186控制器
PXI-7344运动控制卡、NI UMI-7764
LabVIEW7.1开发环境、NI-MOTION驱动软件
技术要点：使用基于PXI平台的运动控制系统，进行翻盖手机的重复开合次数耐久性试验
系统功能简述：基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统采用NI Motion控制模块控制伺服电机进行驱动、运行速度可达到<1s/周期，且同时可对4部手机进行测试。软件采用功能强大的LabVIEW进行开发，用户界面也非常的友好。在测试过程中操作人员针对每批不同型号的手机在初次测试时可使用微调功能将各个参数调整至理想值，并且可将这些参数存成相应的配置文件以备以后测试同样型号手机时使用，大大减少了每次测试时的重复操作。
·倒立摆控制系统演示
使用NI的产品：
PXI嵌入式控制器、PXI数据采集卡
LabVIEW开发平台、LabVIEW控制工具包
技术要点：实时系统的控制
系统功能简述：该系统使用LabVIEW控制工具对一阶倒立摆进行组行状态空间系统建模，并基于LQR优化算法设计其控制器。该系统的最佳使用环境是LabVIEW（Real Time）实时系统。对于一些实时性要求比较高的环境下，LabVIEW实时系统能够提供39KHz的PID控制闭环，因此被广泛应用于控制领域的各个方面。
·用M系列数据采集板卡实现自动化测试设备
使用NI的产品
硬件：PXI（PCI）-6259、M Series Cable
软件：LabVIEW7.1、NI DAQ7.3
技术要点：一块高性能的M系列数据采集板卡相当于下列仪器的功能；
1.25 MS/s 16-bit数字化仪（32路复用）
5-1/2 digit（18-bit）电压表（32路复用）
2.8 MS/s 16-bit任意波形发生器（4路）
10MHz高速DIO（32路）
80MHz计数器/定时器（2个）
系统功能简述：本演示是将NI最新的M系列数据采集板卡用于测试一块PCB板卡上的DAC芯片的积分线性误差（INL），差粉线性误差（DNL）和总谐波失真（THD），演示如何用一块低价格高性能的M系列数据采集板卡实现多个高性能仪器的功能，包括1.25MS/s 16-bit数字化仪，5-1/2 digit（18-bit）电压表，2.8MS/s 16-bit任意波形发生器，10MHz计数器/定时器。
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